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X축

W&B.log 로 기록한 값이 항상 숫자로 기록되는 한, 선 그래프의 X축을 원하는 값으로 설정할 수 있습니다.

Y축 변수

wandb.log 로 기록한 값이 숫자, 숫자 배열 또는 숫자 히스토그램인 경우 Y축 변수를 원하는 값으로 설정할 수 있습니다. 변수에 대해 1500개 이상의 포인트를 기록한 경우 W&B 는 1500개 포인트로 샘플링합니다.

X 범위 및 Y 범위

플롯의 X 및 Y의 최대값과 최소값을 변경할 수 있습니다.

X 범위의 기본값은 X축의 최소값에서 최대값까지입니다.

Y 범위의 기본값은 메트릭의 최소값과 0부터 메트릭의 최대값까지입니다.

최대 Runs/그룹

기본적으로 10개의 run 또는 run 그룹만 플롯됩니다. Runs은 run 테이블 또는 run 세트의 맨 위에서 가져오므로 run 테이블 또는 run 세트를 정렬하면 표시되는 run 을 변경할 수 있습니다.

범례

차트의 범례를 제어하여 생성 시간 또는 run 을 생성한 user 와 같은 run 의 모든 config 값과 메타 데이터를 표시할 수 있습니다.

예시:

${run:displayName} - ${config:dropout} 은 각 run 에 대한 범례 이름을 royal-sweep - 0.5 와 같이 만듭니다. 여기서 royal-sweep 은 run 이름이고 0.5 는 dropout 이라는 config 파라미터입니다.

[[ ]] 안에 값을 설정하여 차트 위로 마우스를 가져갈 때 십자선에 특정 포인트 값을 표시할 수 있습니다. 예를 들어 \[\[ $x: $y ($original) ]] 은 “2: 3 (2.9)” 와 같이 표시됩니다.

[[ ]] 내에서 지원되는 값은 다음과 같습니다.

값	의미
${x}	X 값
${y}	Y 값 (스무딩 조정 포함)
${original}	Y 값 (스무딩 조정 미포함)
${mean}	그룹화된 run 의 평균
${stddev}	그룹화된 run 의 표준 편차
${min}	그룹화된 run 의 최소값
${max}	그룹화된 run 의 최대값
${percent}	합계의 백분율 (누적 영역 차트의 경우)

그룹화

그룹화를 켜서 모든 run 을 집계하거나 개별 변수별로 그룹화할 수 있습니다. 테이블 내에서 그룹화하여 그룹화를 켤 수도 있으며 그룹이 그래프에 자동으로 채워집니다.

스무딩

스무딩 계수를 0과 1 사이로 설정할 수 있습니다. 여기서 0은 스무딩 없음, 1은 최대 스무딩입니다.

이상치 무시

기본 플롯 최소 및 최대 스케일에서 이상치를 제외하도록 플롯의 스케일을 다시 조정합니다. 플롯에 대한 설정의 영향은 플롯의 샘플링 모드에 따라 다릅니다.

• 임의 샘플링 모드를 사용하는 플롯의 경우 이상치 무시를 활성화하면 5%에서 95%의 포인트만 표시됩니다. 이상치가 표시되더라도 다른 포인트와 다르게 서식이 지정되지는 않습니다.
• 전체 충실도 모드를 사용하는 플롯의 경우 모든 포인트가 항상 표시되며 각 버킷의 마지막 값으로 압축됩니다. 이상치 무시를 활성화하면 각 버킷의 최소 및 최대 경계가 음영 처리됩니다. 그렇지 않으면 영역이 음영 처리되지 않습니다.

표현식

표현식을 사용하면 1-정확도와 같은 메트릭에서 파생된 값을 플롯할 수 있습니다. 현재 단일 메트릭을 플롯하는 경우에만 작동합니다. 간단한 산술 표현식 +, -, *, / 및 %는 물론 거듭제곱에 대한 **를 수행할 수 있습니다.

플롯 스타일

선 그래프의 스타일을 선택합니다.

선 그래프:

영역 그래프:

백분율 영역 그래프: